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¥165,000 から

研究/開発用途に実績のあるφ12インチシリコンのダミー/テストウェハの販売になります。品名 12インチSiダミー 12インチSi（90ｎｍ） 12インチSi（65ｎｍ） 12インチSi（26ｎｍ） 12インチSi（19ｎｍ）グレードダミーモニターモニターモニターモニター直径 300±0.5㎜ 300±0.2㎜ 300±0.2㎜ 300±0.2㎜ 30...

¥86,000 から

研究/開発用途して実績のあるφ2インチSiCウェハの販売になります。・Z Grade（Zero MPD Grade）：マイクロパイプ欠陥がゼロの最高品質グレードであり、高性能デバイス用途向けの基板となります。・P Grade（Production Grade）：通常のデバイス製造に使用される量産向けグレードで、一般的な生産基準を満たした基板となります。・D Grade（Dummy G...

¥2,700 から

研究・開発用途に使用いただけるウェハ枚葉ケースになります。【仕様】ケースサイズ：60mm ケース厚み：12mm ケース重量：11.5g ケース材質：PP（ポリプロピレン）納期目安：ご発注後3営業日以内 ※1回の御注文が3,500円未満（税別）の場合には、配送料500円（税別）を頂戴します。（チェックアウト画面で住所を入力すると表示されます）

¥2,900 から

研究・開発用途に使用いただけるウェハ枚葉ケースになります。【仕様】ケースサイズ：85mm ケース厚み：13mm ケース重量：28g ケース材質：PP（ポリプロピレン）納期目安：ご発注後3営業日以内

¥45,000

研究/開発用途として多数実績のあるφ3インチシリコンダミー/テストウェハの販売になります。 ■品名：φ3インチ×380μmt Siウェハ ■数量： 25枚【仕様】直径 (Dia)：76.0± 0.5mm 厚み (Thickness)：380± 20μ m 導電型 (Conductivity type)：P型抵抗値 (Resistance value)：1-50Ω・cm 面方位(Cry...

¥40,000 から

研究/開発用途 3インチPt膜付きSiウェハの販売となります。枚数 1枚～ご希望の数量をお申し付けください。【成膜仕様】方式：スパッタリング(PVD)成膜膜構成：Sub/Ti/Pt 膜厚公差：狙い値より±10％以内狙い基板：φ3インチSiウェハ成膜面：ミラー面成膜環境：弊社クリーンルーム(Class 1000) 標準納期：ご発注後3営業日（在庫品） ★期間限定キャンペーン（30%...

¥40,000 から

研究/開発用途 3インチAu膜付きSiウェハの販売となります。枚数 1枚～ご希望の数量をお申し付けください。【成膜仕様】方式：スパッタリング(PVD)成膜膜構成：Sub/Ti/Au 膜厚公差：狙い値より±10％以内狙い基板：φ3インチSiウェハ成膜面：ミラー面成膜環境：弊社クリーンルーム(Class 1000) 標準納期：ご発注後3営業日（在庫品） ★期間限定キャンペーン（30...

¥430,000 から

研究/開発用途として実績のあるφ4インチSiCウェハの販売になります。・Z Grade（Zero MPD Grade）：マイクロパイプ欠陥がゼロの最高品質グレードであり、高性能デバイス用途向けの基板となります。・P Grade（Production Grade）：通常のデバイス製造に使用される量産向けグレードで、一般的な生産基準を満たした基板となります。・D Grade（Dummy ...

¥420,000 から

エッチング(ETCHING)装置用4インチ(100mm)⽤シリコン(Si)フォーカスリング。抵抗値1〜30Ω.cm。1D10-350748-21の互換品。10個が最小販売ロット(MOQ)。

¥2,900 から

研究・開発用途に使用いただけるウェハ枚葉ケースになります。【仕様】ケースサイズ：112mm ケース厚み：15mm ケース重量：41g ケース材質：PP（ポリプロピレン）納期目安：ご発注後3営業日以内

¥50,000

研究/開発用途として多数実績のあるφ4インチシリコンダミー/テストウェハの販売になります。 ■品名：φ4インチ×525μmt Siウェハ ■数量： 25枚【仕様】直径 (Dia)：100.0±0.5mm 厚み (Thickness)：525±25μm 導電型 (Conductivity type)：P型抵抗値 (Resistance value)：1-100Ω・cm 面方位：＜100...

ASK

¥45,000 から

研究/開発用途 4インチPt膜付きSiウェハの販売となります。枚数 1枚～ご希望の数量をお申し付けください。【成膜仕様】方式：スパッタリング(PVD)成膜膜構成：Sub/Ti/Pt 膜厚公差：狙い値より±10％以内狙い基板：φ4インチSiウェハ成膜面：ミラー面成膜環境：弊社クリーンルーム(Class 1000) 標準納期：ご発注後3営業日（在庫品）在庫品 SOLD OUT （受...

ASK

4インチ熱酸化膜付きウェハ 4INCH Thermal oxide wafer ( Si + SiO2 )

¥90,000

φ4インチ熱酸化膜付きシリコンウェハの販売。熱酸化膜/SiO2付き、Φ4インチ、φ4"、φ100mm、シリコン、Silicon、Si、ウェハ、ウェーハ、ウェハ―、ウエハ、ウエーハ、ウエハー、Wafer、Oxide。 ■品名 Descriptionφ4インチ(inch）×525μmt Siウェハ（Wafer）■数量 25枚■仕様 Specification・直径 Dia：100±0.5mm・導...

¥45,000 から

研究/開発用途 4インチAu膜付きSiウェハの販売となります。枚数 1枚～ご希望の数量をお申し付けください。【成膜仕様】方式：スパッタリング(PVD)成膜膜構成：Sub/Ti/Au 膜厚公差：狙い値より±10％以内狙い基板：φ4インチSiウェハ成膜面：ミラー面成膜環境：弊社クリーンルーム(Class 1000) 標準納期：ご発注後3営業日（在庫品）

¥66,000 から

研究/開発用途として実績のあるφ6インチSiCウェハの販売になります。・Z Grade（Zero MPD Grade）：マイクロパイプ欠陥がゼロの最高品質グレードであり、高性能デバイス用途向けの基板となります。・P Grade（Production Grade）：通常のデバイス製造に使用される量産向けグレードで、一般的な生産基準を満たした基板となります。・D Grade（Dummy ...

ASK

6インチSiウェハ 100枚/1セット 6inch Silicon Wafer 100pcs/1SET

¥256,000

φ6インチシリコンのダミー/テストウェハの販売。Φ6インチ、φ6"、φ150mm、φ150MM、シリコン、Silicon、Si、ウェハ、ウェーハ、ウェハ―、ウエハ、ウエーハ、ウエハー、Wafer、WAFER、基板。・在庫状況、納期は随時お問合せください。 150mm wafer inventory Type Dopant Orientation Resistiv...

¥62,500

研究/開発用途として多数実績のあるφ6インチシリコンダミー/テストウェハの販売になります。 ■品名：φ6インチ×625μmt Siウェハ ■数量：25枚【仕様】・直径 (Dia)：150.0±0.5mm ・厚み (Thickness)：625±25μm ・導電型 (Conductivity type)：P型・抵抗値 (Resistance value)：1-100Ω・cm ・面方位...

ASK

6インチ熱酸化膜付きウェハ 6INCH Thermal oxide wafer ( Si + SiO2 )

¥125,000

φ6インチ熱酸化膜付きシリコンウェハの販売。熱酸化膜/SiO2付き、Φ6インチ、φ6"、φ150mm、シリコン、Silicon、Si、ウェハ、ウェーハ、ウェハ―、ウエハ、ウエーハ、ウエハー、Wafer、Oxide。 ■品名 Descriptionφ6インチ(inch）×625μmt Siウェハ（Wafer）■数量 25枚■仕様 Specification・直径 Dia：150±0.5mm・導...

¥446,000 から

研究/開発用途として実績のあるφ8インチSiCウェハの販売になります。・Z Grade（Zero MPD Grade）：マイクロパイプ欠陥がゼロの最高品質グレードであり、高性能デバイス用途向けの基板となります。・P Grade（Production Grade）：通常のデバイス製造に使用される量産向けグレードで、一般的な生産基準を満たした基板となります。・D Grade（Dummy ...

¥6,100 から

研究・開発用途に使用いただけるウェハ枚葉ケースになります。【仕様】ケースサイズ：215mm ケース厚み：21mm ケース重量：210g ケース材質：PP（ポリプロピレン）納期目安：ご発注後3営業日以内

¥75,000

研究/開発用途として多数実績のあるφ8インチシリコンダミー/テストウェハの販売になります。 ■品名：φ8インチ×725μmt Siウェハ ■数量：25枚【仕様】・直径 (Dia)：200.0±0.2mm ・厚み (Thickness)：725±25μm ・導電型 (Conductivity type)：P型・抵抗値 (Resistance value)：1-100Ω・cm ・面方位...

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